坏道是指硬盘碟片中存在缺陷的区域，在这个区域上，硬盘无法读取和写入数据，而已经存储在这个位置的数据可能由于坏道的存在而损坏。坏道是
数据恢复中常见的故障之一，通常可分为逻辑坏道和物理坏道，逻辑坏道可以通过低级格式化来消除，而物理性坏道是无法通过软件来解决的。
一、坏道的产生
目前的机械硬盘都采用高密度存储技术生产，在生产过程中不可避免地会在某些区域上产生缺陷扇区，同时在使用过程中，一些不稳定的扇区也会逐渐老化成为缺陷扇区，这些先天缺陷和和后天残疾就是我们所说的坏道，但是坏道并非肉眼可见的损伤，只是这些区域的磁性信息无法正常被识别，它们会严重威胁硬盘数据的安全，但是，硬盘其实对于坏道来说有容灾机制。硬盘设计了两个缺陷列表P-list（P表）和G- list（G表）来处理这些有缺陷的扇区。Ｐ表和Ｇ表用于记录硬盘的缺陷扇区的情况，使硬盘在工作时不会在缺陷扇区中读写数据，防止数据损坏。
二、P-List（P表：永久缺陷表）
P表又称为永久缺陷列表，用于记录硬盘生产过程中产生的缺陷。厂家使用专门的测试设备发现的缺陷是磁介质寿命完成之后产生的永久缺陷，只能使用特别的设备来增加它，一般没有必要去动它。
加入P表不会影响硬盘的读写性能，这要从硬盘的扇区结构进行分析。因为硬盘的全部扇区可以划分为固件区、工作区和保留扇区，其中固件区和保留扇区普通用户 无法直接进行操作。其实硬盘的实际扇区数比我们看到的硬盘标签上标定的要大，其中一部份用于存储硬盘的固件；一部分是用户存储数据的区域，即工作区，也就 是硬盘标定容量的扇区；剩下的就是保留区，实际上硬盘上并不会物理划出一个保留区域，只是在工厂生产时标定了全部的有效扇区，而硬盘的容量是小于其实际扇 区总数的，在固件里定义了硬盘的容量，超过硬盘容量的那些扇区我们就称为保留扇区。
缺陷扇区被加入P表后，硬盘不会再读写该扇区，而是将原读写该扇区的操作顺延到读写坏扇区的下一个扇区，该扇区以后的所有扇区的LBA值都发生了改变，原来保留扇区的一个扇区成为了硬盘可访问的扇区。所以坏道被加入P表后，硬盘需要进行一次返厂低格。
三、G-List（G表：增长缺陷表）
G表又称为增长缺陷列表，故名思议，它是用于记录硬盘使用过程中产生的坏道。也就是说，硬盘在使用时，其实坏道是不定时都在产生的，只是由于G表的及时屏蔽，使用户感觉不到它的存在，只有当坏道产生的数量超过G表所能屏蔽的范围，坏道就能被用户感知到了。而产生
数据恢复需求的硬盘，大多由于G表已满，无法继续屏蔽造成的。缺陷扇区被加入G表后，当硬盘需要读该扇区时，会被重映射到保留扇区中的一个扇区，硬盘工作区的其它扇区不会受影响。
这个屏蔽机制虽然使硬盘具备了容灾能力，但是，由于保留扇区在硬盘的负扇区内，与现存数据的存储空间并不连续，当硬盘读取到这个数据时，需要摆臂到负扇区内读取坏扇区上对应的数据，这就造成了硬盘访问效率的降低。因此，坏道即使被屏蔽了，也依然在一定程度上降低了硬盘的运行效率。
物理性坏道非逻辑问题，无法通过数据恢复软件进行恢复和屏蔽，产生坏道的硬盘应及时联系专业
数据恢复公司进行数据救援，切勿强制拷贝坏道硬盘中的数据，否则磁头在坏道区域反复读取，可能造成坏道区域扩大，甚至造成磁头损坏而升级为
开盘数据恢复。
