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固态硬盘的数据存储原理
发布时间:2015-12-23 09:07:01     发布者:技佳数据恢复中心     --转载请注明出处--
技佳数据恢复_固态硬盘
      在固态硬盘中,Flash的最小存储单元是晶浮栅晶体管,对应于磁盘中的一个bit的存储单元。SSD中,在存储单元晶体管的栅(Gate)中,注入不同数量的电子,通过改变栅的导电性能,来改变晶体管的导通效果,从而实现对不同状态的记录和识别。在SLC架构中,栅中的电子数目多与少,带来的只有两种导通状态,对应读出的数据就只有0/1;MLC架构中,栅中电子数目不同时,可以读出多种状态,能够对应出00/01/10/11等不同数据。

      因此,SSD数据处理都要进行加电处理,加电的过程等同于HDD硬盘的数据写入操作,断电的过程电位恢复,相当于HDD硬盘的擦除。数据完整的一次P/E循环就是NAND的写入循环。因为P/E循环次数是有限的,这也就直接影响到SSD的寿命。但是根据存储架构的不同,SDD的寿命也是有差别的。

      由于SLC结构简单,在写入数据时电压变化的区间小,所以寿命较长,传统的SLC NAND闪存可以经受10万次的读写。而且因为一组电压即可驱动,所以其速度更好;而MLC采用较高的电压驱动,通过不同级别的电压在一个块中记录两组位信息,这样就可以将原本SLC的记录密度理论提升一倍。不过,MLC的缺点也很明显,其写入寿命较短,读写方面的能力也比SLC低;.TLC采用三层存储单元,因此可以以较低的成本实现更大的容量。但是,由于TLC拥有多达8个电平状态,因此在电位控制上更加复杂,特别是写入速度会大受影响,延迟增加。加之众多的电平状态,其使用寿命更短。

技佳数据恢复_3D V-NAND

      近两年,三星、东芝等闪迪巨头均推出了3D V-Nand闪存,将原本平面堆砌的闪存垂直叠加,形成摩天大楼式的存储模式,这样除了可以大幅提升闪存存储密度外,还可能延长闪存的PO寿命,尤其是TLC闪存。3DV-Nand抛弃了传统的浮栅极MOSFET结构,采用了用控制栅极和绝缘层将MOSFET环形包裹起来的方式。由于浮栅极MOSFET结构是将电子存储在栅极中,每次写入都会消耗栅极中的电子,一旦电子用光SSD也就寿终正寝了。而现在则会大大提升储存电荷的物理区域,特别是对TLC闪存产品有非常积极的意义。

      基于DRAM的固态硬盘是采用DRAM作为存储介质,应用范围较窄。它仿效传统硬盘的设计,可被绝大部分操作系统的文件系统工具进行卷设置和管理,并提供工业标准的PCI和FC接口用于连接主机或者服务器。应用方式可分为SSD硬盘和SSD硬盘阵列两种。它是一种高性能的存储器,而且使用寿命很长。但是基于DRAM的固态硬盘的费用也是非常昂贵,因为基于DRAM的固态硬盘内部必须持续供电,而且还得为其做备份。

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